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產品型號
SurfaceSeer S TOF-SIMS -
廠商性質
生產廠家 -
更新時間
2026-07-31 -
瀏覽次數
28
產品描述
SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質譜儀 (TOF-SIMS) 面向科研與工業質控,具備 ppm 級表面靈敏度,采用超低損傷脈沖離子束技術,可分析導電 / 絕緣樣品,用于薄膜質控、界面分析、表面改性、催化、生物材料表征。支持正負 SIMS 檢測,可選標準譜庫
產品型號
SurfaceSeer S TOF-SIMS廠商性質
生產廠家更新時間
2026-07-31瀏覽次數
28產品描述
SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質譜儀 (TOF-SIMS) 面向科研與工業質控,具備 ppm 級表面靈敏度,采用超低損傷脈沖離子束技術,可分析導電 / 絕緣樣品,用于薄膜質控、界面分析、表面改性、催化、生物材料表征。支持正負 SIMS 檢測,可選標準譜庫
產品型號
MODEL 3080GC-MS II廠商性質
生產廠家更新時間
2026-07-29瀏覽次數
65產品描述
雪迪龍便攜式氣相色譜質譜聯用儀融合低熱容快速氣相色譜技術與非對稱線形離子阱質量分析器技術,充分發揮了色譜分離效率高與質譜定性能力強的雙重優勢。結合四大創新技術,可快速實現對有機污染物的準確定性與定量檢測,具備便攜、可靠、易于操作等特點。