產(chǎn)品分類
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產(chǎn)品型號
SurfaceSeer S TOF-SIMS -
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 -
更新時間
2026-07-31 -
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產(chǎn)品描述
SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 (TOF-SIMS) 面向科研與工業(yè)質(zhì)控，具備 ppm 級表面靈敏度，采用超低損傷脈沖離子束技術(shù)，可分析導(dǎo)電 / 絕緣樣品，用于薄膜質(zhì)控、界面分析、表面改性、催化、生物材料表征。支持正負 SIMS 檢測，可選標準譜庫