一、雪迪龍飛行時間二次離子質(zhì)譜儀產(chǎn)品簡介

SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）是面向科研研發(fā)與工業(yè)質(zhì)量控制打造的高性價比表面分析設(shè)備。儀器依托超低樣品損傷技術(shù)與高效離子采集能力，專注完成各類常規(guī)材料表面化學(xué)成分精準(zhǔn)解析，兼顧檢測性能與采購使用成本，為材料科學(xué)研究、工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)控提供可靠的表面表征解決方案。

二、核心應(yīng)用領(lǐng)域

適用場景覆蓋高分子聚合物、無機薄膜、復(fù)合材料、生物材料等品類，可解決界面失效、表層污染物溯源、表面改性效果驗證、薄膜組分篩查等常見研發(fā)與生產(chǎn)難題。

三、核心技術(shù)優(yōu)勢

1. 超高表面靈敏度，ppm 級別痕量檢測

   可達(dá) 1×10?atoms/cm2 靈敏度，實現(xiàn)材料表層痕量元素、分子組分識別。

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3. 超低損傷靜態(tài)分析，近乎無損樣品檢測

   搭載 5 kV Ar?/Cs?脈沖離子束、60 ns 超短脈沖技術(shù)，束流強度僅為連續(xù)束 1/1000，大程度避免離子束對樣品表層造成破壞，適配易損傷聚合物、有機材料。

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5. 高信號采集效率，低產(chǎn)率材料穩(wěn)定檢測

   配置高傳輸效率反射式 TOF 分析器，即便聚合物這類二次離子低產(chǎn)率樣品，信號計數(shù)仍可達(dá) 5000 cps，保障有效數(shù)據(jù)輸出。

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7. 導(dǎo)電 / 絕緣樣品通用檢測

   內(nèi)置電子脈沖電荷中和系統(tǒng)，消除絕緣樣品荷電效應(yīng)，無需復(fù)雜前處理，同時兼容導(dǎo)電、絕緣兩大類樣品。

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9. 快速正負(fù)模式同步分析

   1~2 分鐘內(nèi)完成高速正負(fù) SIMS 切換檢測，同步獲取正離子、負(fù)離子信息，豐富組分識別依據(jù)。

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11. 可選專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)譜庫，簡化物質(zhì)解析

    可選配靜態(tài)二次離子質(zhì)譜標(biāo)準(zhǔn)譜庫，內(nèi)置 1900 + 標(biāo)準(zhǔn)譜圖，覆蓋 1000 余種常見材料，降低圖譜解析門檻。

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四、儀器測量原理

SurfaceSeer S 采用 5 keV 脈沖銫離子槍（Cs?）或氬離子槍（Ar?）作為一次離子源；依靠 60 ns 超短脈沖工作模式（占空比僅 0.06%），大幅降低平均束流劑量，實現(xiàn)靜態(tài) SIMS 超低損傷表面分析。一次離子轟擊樣品表面產(chǎn)生二次離子，經(jīng)由高效反射式飛行時間（TOF）分析器完成離子分離檢測。系統(tǒng)在聚合物等低產(chǎn)率樣品上依舊維持 5000 cps 穩(wěn)定計數(shù)，是兼顧綜合性能與投入成本的工業(yè)化 TOF-SIMS 解決方案。

五、整機系統(tǒng)構(gòu)成